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Caracterización estructural por difracción de rayos X en polvo.


Caracterización estructural por difracción de rayos X en polvo.

Palabras clave : Difracción de rayos X, caracterización estructural, estructura cristalográfica.

Persona de contacto: Javier Blasco ( jbc@unizar.es ). Facultad de Ciencias. Universidad de Zaragoza. 50009 Zaragoza. ( Tlf. 976 762419). Javier Rubín ( jrubin@unizar.es ). Instituto de Ciencia de Materiales de Aragón, Centro Politécnico Superior, Edif. Torres Quevedo. CSIC-Universidad de Zaragoza. 50018 Zaragoza. Tlf. 976762524.

Descripción de la capacidad: Asesoramiento y análisis de diagramas de difracción de rayos X en polvo. El análisis incluye la identificación de fases cristalinas y su cuantificación (por encima de 1% en peso). Asimismo se pueden resolver estructuras cristalográficas siempre y cuando las condiciones experimentales lo permitan, es decir la relación entre el número de reflexiones y los parámetros a refinar sea la apropiada. También se pueden analizar parámetros adicionales como texturas o tamaño medio de los granos que forman parte de la muestra pulvurulenta. Los diagramas se pueden realizar en el servicio de difracción de rayos X de los SAI de la Universidad de Zaragoza y en un difractómetro para determinación de estructuras a temperatura ambiente de materiales en polvo que dispone el Instituto.

Técnicas y/o instrumentadión disponibles: Difractómetro de rayos X Siemens 501. Geometría de difracción de tipo Bragg-Brentano ( q - 2 q ) . Tubo de rayos X con ánodo de Cu. También se hace uso de un difractómetro con ánodo rotatorio Rigaku RU300 de los SAI. Las herramientas informáticas para el análisis estructural comprende el paquete de programas Fullprof (análisis estructural Rietveld), la base de datos ICDD (identificación de fases) y el paquete Carine (representación gráfica de estructuras). Además se pueden hacer simulaciones teóricas de diagramas de difracción






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