Seminario: Últimos avances en la microscopía de fuerza atómica (AFM)

Julien Lopez (PhD) de Asylum Reseach (Oxford Instru-ments) presentará las últimas novedades sobre la Microscopia de Fuerza Atómica (AFM). Nuevos modos de medida como el Video-Rate AFM o nuevas aplicaciones como el análisis de materiales 2D o la caracterización de películas delgadas, son algunos de los temas, además de los últimas publicaciones en PFM (Piezoforce Microscopy), propiedades eléctricas y propiedades nanomecánicas en una gran variedad de diferentes tipos de materiales

• Adjunto 1 (pdf)

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